300 kV 超高分解能透過電子顕微鏡
（300 kV – HRTEM）
(300 kV High Resolution Transmission Electron Microscope)

200 kV 分析透過電子顕微鏡
（200 kV – ATEM）
(200 kV Analytical Transmission Electron Microscope ; ATEM)

100 kV 透過電子顕微鏡
（100 kV － CTEM）
(100 kV Transmission Electron Microscope)

イオンミリング装置
(Ion Milling Device)

電解研磨装置
(Electropolisher)

電子線マイクロプローブアナライザー
（エネルギーおよび波長分散型分光分析システム装備 走査電子顕微鏡）
(EPMA: Electron Probe Micro Analyser , Scanning Electron Microscope with Both Energy- and Wavelength-Dispersive Spectroscopy System)

各種光学顕微鏡
（Various Type of Optical Microscopes)

蛍光顕微鏡
（Fluorescence Microscope)

X 線回折装置
(X – Ray Diffraction Equipment)

示差走査熱量測定（DSC）装置、 熱重量測定（TG）& 示差熱分析（DTA）装置
(Differential Scanning Calorimeter, Thermo Gravimetry & Differential Thermal Analyzer)

電気抵抗測定装置
(Electrical Resistivity Measurement System)

各種熱処理装置
(Various Type of Heat Treatment Systems)

高真空石英管真空封入システム
(High Vacuum-encapsulating System)

真空蒸着装置
(Vacuum Evaporation System)

高周波マグネトロンスパッタリング装置
(RF – Magnetron Sputtering System)

種機械加工装置
(Various Type of Machining Equipment)

引張・圧縮試験装置
(Tensile and Compression Tester)

スクラッチ試験機
(Scratch Tester)

マイクロビッカース硬度計
(Micro Vickers Hardness Tester)

弾性率測定装置
(Elastic modulus Measurement Device)